原子发射光谱，原子发射光谱的选择性为什么高

本文目录一览

1，原子发射光谱的选择性为什么高
2，原子发射光谱法的简介
3，原子发射光谱法与原子吸收光谱法在定量分析上有何异同
4，原子发射光谱法和原子荧光光谱法的区别是什么
5，原子发射光谱仪的工作原理是什么
6，原子发射光谱中的自吸系数是什么

1，原子发射光谱的选择性为什么高

因为根据原子结构理论,每个原子都有其独特的结构,其原子核及核外电子的性能,特点均不一样,原子发射光谱是原子最外层电子得到能量后,跃迁至较高能级,其在较高能级不稳定,回到低能级时,多余的能量如以光的形式出射出来,就得到了原子的发射光谱图,每种原子发射的光谱组具有特征性,检测其谱线就可知是什么元素,所以原子发射光谱的选择性很高,是70种元素定性分析的首选方法.

波尔理论将原子中电子的轨道解释为分立的圆形轨道,每个轨道是确定的,能量也是确定的.当电子在这些轨道跃迁时,就发出了相应能量的光子,所以是分立谱.但它无法解释谱线的强弱和精细结构,因为它是半量子理论,只考虑了角动量量子化.

原子发射光谱的选择性为什么高

2，原子发射光谱法的简介

原子发射光谱仪是根据试样中被测元素的原子或离子，在光源中被激发而产生特征辐射，通过判断这种特征辐射波长及其强度的大小，对各元素进行定性分析和定量分析的仪器。-----优普莱等离子体技术。

原子吸收光谱是基于物质所产生的原子蒸气对特定谱线的吸收作用来进行定量分析的方法．原子发射光谱是基于原子的发射现象,而原子吸收光谱则是基于原子的吸收现象．二者同属于光学分析方法．原子吸收法的选择性高,干扰较少且易于克服.由于原于的吸收线比发射线的数目少得多,这样谱线重叠的几率小得多.而且空心阴极灯一般并不发射那些邻近波长的辐射线经,因此其它辐射线干扰较小.原子吸收具有更高的灵敏度.在原子吸收法的实验条件下,原子蒸气中基态原于数比激发态原子数多得多,所以测定的是大部分原子.原子吸收法比发射法具有更佳的信噪比是因为激发态原子数的温度系数显著大于基态原子.

一般认为原子发射光谱是1860年德国学者基尔霍夫（Kirchhoff G R）和本生（Bunsen R W）首先发现的，他们利用分光镜研究盐和盐溶液在火焰中加热时所产生的特征光辐射，从而发现了Rb和Cs两元素。其实在更早时候，1826年泰尔博（Talbot）就说明某些波长的光线是表征某些元素的特征。从此以后，原子发射光谱就为人们所注视。

原子发射光谱法的简介

3，原子发射光谱法与原子吸收光谱法在定量分析上有何异同

原子吸收光谱是基于物质所产生的原子蒸气对特定谱线的吸收作用来进行定量分析的方法。原子发射光谱是基于原子的发射现象，而原子吸收光谱则是基于原子的吸收现象。二者同属于光学分析方法。原子吸收法的选择性高，干扰较少且易于克服。由于原于的吸收线比发射线的数目少得多，这样谱线重叠的几率小得多。而且空心阴极灯一般并不发射那些邻近波长的辐射线经，因此其它辐射线干扰较小。原子吸收具有更高的灵敏度。在原子吸收法的实验条件下，原子蒸气中基态原于数比激发态原子数多得多，所以测定的是大部分原子。原子吸收法比发射法具有更佳的信噪比是因为激发态原子数的温度系数显著大于基态原子。

原子吸收光谱是基于物质所产生的原子蒸气对特定谱线的吸收作用来进行定量分析的方法．原子发射光谱是基于原子的发射现象，而原子吸收光谱则是基于原子的吸收现象．二者同属于光学分析方法．原子吸收法的选择性高，干扰较少且易于克服。由于原于的吸收线比发射线的数目少得多，这样谱线重叠的几率小得多。而且空心阴极灯一般并不发射那些邻近波长的辐射线经，因此其它辐射线干扰较小。原子吸收具有更高的灵敏度。在原子吸收法的实验条件下，原子蒸气中基态原于数比激发态原子数多得多，所以测定的是大部分原子。原子吸收法比发射法具有更佳的信噪比是因为激发态原子数的温度系数显著大于基态原子。

原子发射光谱法与原子吸收光谱法在定量分析上有何异同

4，原子发射光谱法和原子荧光光谱法的区别是什么

原子发射需要用强大的能量去气化，并激发，原子外层电子被激发后，返回较低能态就会产生发射光谱。所以原子发射首先需要激发源，比如电火花、激光、等离子体等，使原子气化，再被激发。　　原子荧光是用该原子的特征光去激发原子外层电子，显然光能比等离子体的能量弱很多，但是现在因为使用空心阴极灯，大大提高了光的能量，而且是锐线光，使部分元素的激发变得容易了许多，因此原子荧光可以比较容易滴应用到汞、砷、硒这一类低沸点元素上。然后被激发的原子外层电子返回低能态，产生发射光谱，这个发射光谱和原子发射光谱是一样的，但是因为是被光激发出来的光，是一种二次发光，所以被称作荧光。为了避免被一次光（激发光）干扰，荧光的检测器都是设在光路的直角方向。比较特别的，X-射线原子荧光，激发的是内层电子，产生空穴，外层电子进去补空时，发射出X-射线原子荧光，因为X-射线不可以用普通石英玻璃去做光窗，一般会使用某些金属片做窗户，比如铍。　　所以两个光谱法的区别就是：　　　发射光谱 —— 荧光光谱　　1 光源：复杂的激发装置 ------- 空心阴极灯　　2 气化：与激发装置相同 ------- 直接挥发或者产生氢化物　　3 光路：直线光路 ——— 直角光路　　 4 光栅：需要单色器 —— 无需单色器

5，原子发射光谱仪的工作原理是什么

原子吸收光谱仪基本原理：仪器从光源辐射出具有待测元素特征谱线的光，通过试样蒸气时被蒸气中待测原素基态原子所吸收，由辐射特征谱线光被减弱的程度来测定试样中待测原素的含量。用途：原子吸收光谱仪可测定多种元素，火焰原子吸收光谱法可测到10-9g/ml数量级，石墨炉原子吸收法可测到10-13g/ml数量级。其氢化物发生器可对八种挥发性原素汞、砷、铅、硒、锡、碲、锑、锗等进行微痕量测定。因原子吸收光谱仪的灵敏、准确、简便等特点，现已广泛用于冶金、地质、采矿、石油、轻工、农业、医药、卫生、食品及环境监测等方面的常量及微痕量原素分析。

等离子发射光谱仪是由高频发生装置（几十兆赫兹）、单色器、光电接收装置、数据处理系统等组成。工作原理：高频发生装置输出的电感耦合管状体里（高温体）注入样品、氩气、氮气等混合气体（一定比例）。使样品原子化显现光谱，用单色器等光学器件来处理光谱，再由光电接收装置测量它的光谱强度，然后计算机等数据处理系统，根据标准样品作标准曲线（数学模型），这样可以根据标准曲线算出被测样品含量。

基本原理：基态气态原子可以吸收同种原子发出的光谱。具体是这样的：光源（一般是空心阴极灯或无极放电灯）里有被测金属，它被激发放出锐线光谱（就是一定波长的不连续光谱）。而气化池可以气化（即原子化）被测金属，原子金属可以吸收空心阴极灯发出的锐线光谱，通过检测被吸收后光谱的强度，得到被吸收的光谱强度，从而可以计算出金属原子的浓度（比尔-朗伯定律）。不知道你能看懂吗？不懂再问啊，呵呵

6，原子发射光谱中的自吸系数是什么

光谱定量分析的关系式 光谱定量分析主要是根据分析试样光谱中待测元素的谱线强度来确定元素的含量（浓度）。某元素的谱线强度I与该元素在试样中的百分含量c的相互关系，或lgI=blgc+lga 式中常数a与元素的性质、试样的蒸发和激发条件，试样的组成，以及该谱线的跃迁几率、辐射频率、激发电位、弧焰温度等一系列因素有关。常数b为自吸系数，它是与谱线的自吸性质有关的参数。当某元素浓度很低时，谱线强度不大，谱线没有自吸现象，b=1；当浓度高时，谱线容易出现自吸，b<1，此时I与c关系复杂，I-c曲线呈弯曲形状。由此可见，参数a与b不仅与实验条件有关，而且与待测元素的含量有关。只有当待测元素的含量在一定范围时，a和b才是常数。 由于试样的蒸发、激发条件，以及试样组成等的变化，均可使参数a发生改变，直接影响谱线的强度。这种变化很难避免，为此应用内标法进行光谱定量分析。 首先在待测元素的谱线中选定一条谱线，称为分析线，其强度以I表示。其次，在待测试样中，准确地加入某一种元素，称该元素为内标元素，选内标元素的一条谱线，称为内标线（比较线），其强度以表示。分析线和内标线这一对“均称”的谱线称分析线对。它们的强度之比I/，称为相对强度。所谓“均称”是指分析线对选择得当，当某些条件变化的情况下，对分析线和内标线强度引起同等程度的改变。分析线对的波长应相近，而且应在乳剂特性曲线的直线部分。根据分析线对相对强度与分析元素含量的关系，进行光谱定量分析的方法称为内标法。内标法光谱定量分析的基本关系式： lgR=lgI/=blgc+lga 根据乳剂特性曲线，对分析线和内标线强度所引起的黑度 S=γ1lgI-i1 =γ2lg-i2 因为分析线对是在同一谱片上，γ1=γ2=γ ，i1= i2=i ΔS=S-=γlgI/=γ（blgc+lga）这是基于内标法原理以摄谱法进行光谱定量分析的基本关系式。在内标法中，正确选用分析线对有助于提高准确度。选用内标元素及分析线对一般应注意以下几点：（1）分析线没有自吸。（2）分析线和内标线的谱线强度、宽度要相近。（3）分析线和内标线的波长要相近，以避免乳剂的不均匀所产生误差。（4）分析线和内标线的黑度要落在乳剂特性曲线的直线部分。（5）分析线和内标线的背景要小（6）内标元素的含量不随分析元素含量的变化而变化。（7）分析元素和内标元素的激发电位、电离电位要相近。（8）分析元素和内标元素的沸点、挥发性、扩散性要相近，以保证得到形状相近的蒸发曲线，提高准确度。 http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20041214/107762/ 谱线的自吸和自蚀激发源中的等离子体有一定的体积，温度及原子浓度在其各部位分布不均匀。中间温度高，边缘温度低，中心区域激发态的原子多，边缘基态或较低能态的原子较多。某元素的原子从中心发射某一波长的电磁辐射，必然要通过边缘到达检测器，这样所发射的电磁发射就有可能被处在边缘的同元素基态或较低能态的原子所吸收。因此，检测接收到的谱线强度就减弱了。这种原子在高温发射某一波长的辐射，被处于边缘低温状态的同种原子所吸收的现象称为自吸。自吸对谱线中心处的强度影响较大。这是由于发射谱线的宽度比吸收谱线的宽度来的大的缘故。自吸的程度用自吸系数b表示。当试样中元素的含量很低时，不表现出自吸，；当含量增大时，自吸现象增强，b<1。当达到一定的较大含量时，由于自吸严重，谱线中心的辐射被强烈的吸收，致使谱线中心的强度比边缘更低，似乎变成两条谱线，这种现象成为自蚀。如图10.27所示。在谱线表上，用标r表示有自吸的谱线，用标R表示有自蚀的谱线。基态原子对共振线的自吸最为严重，并且常产生自蚀。激发源中弧焰的厚度越厚，自吸现象越严重。不同光源类型，自吸情况不同，直流电弧的蒸气的厚度大，自吸现象比较明显。 http://col.njtu.edu.cn/zskj/2015/yifen/chapt10/10-4-3-1.html 210.192.124.212/200461318187.pdf