hrtem，高分辨透射电子显微镜成像原理及应用有效期至2009年4月10日

来源：整理时间：2025-01-20 16:04:34 编辑：智能门户手机版

本文目录一览

1，高分辨透射电子显微镜成像原理及应用有效期至2009年4月10日
2，hrtem的分辨率一般多少才算的上
3，审稿人要加TEM我数据目前只有HRTEM可以加HRTEM吗
4，求助TEM中分辨率和放大倍数有什么联系
5，谢乐公式计算出的一维纳米材料直径代表什么意思呢
6，普通HRTEM量晶面间距这事到底科学么

1，高分辨透射电子显微镜成像原理及应用有效期至2009年4月10日

推荐固体催化剂的研究方法：分析电子显微镜我传到网盘： http://www.brsbox.com/ ... 16f15b2dea54a 查看原帖>>

谢谢各位的帮助，但是你们的资料不是我要的具体来说，hrtem的原理是相位衬度，和tem的原理（振幅衬度）是不同的。

高分辨透射电子显微镜成像原理及应用有效期至2009年4月10日

2，hrtem的分辨率一般多少才算的上

HRTEM(High Resolution Transmission Electron Microscopy )就是高分辨率的透射电镜，它只是分辨率比较高，所以一般透射电镜能做的工作它也能做，但高分辨电镜物镜极靴间距比较小，所以双倾台的转角相对于分析型的电镜要小一些

搜一下：hrtem的分辨率一般多少才算的上

hrtem的分辨率一般多少才算的上

3，审稿人要加TEM我数据目前只有HRTEM可以加HRTEM吗

原子力显微镜表征石墨烯的什么性质当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘、盐类和石墨烯分子。当然光学显微镜、扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。

应该不能吧。

审稿人要加TEM我数据目前只有HRTEM可以加HRTEM吗

4，求助TEM中分辨率和放大倍数有什么联系

分辨率，应该是指所拍摄的电镜照片能够达到的最高的像素。高倍的TEM都能出高像素的照片，这个应该没有问题。caobin216(站内联系TA)我是这么理解的，扫描电镜里面分辨率表示为：1.2nm（30kv）/1.5nm（15kv）/2.0nm（1kv）高分辨的就是能看到更加细微的结构如上诉的1.2纳米左右，某些低分辨的可能就不能看到这么细微的结构了。透射电镜经常用点分辨率（如0.24nm ）线分辨率（0.1nm）来描述我发现透射电镜分高倍和低倍，有时还说高分辨率，我有点晕了…… 希望高人给我解释一 ... 你说的高分辨TEM（HRTEM）一般是用来看原子点阵的，比如看两相界面原子排布啥的。

5，谢乐公式计算出的一维纳米材料直径代表什么意思呢

做XRD的时候，粉末是所有单晶纳米棒的集合体，这粉末就是相当于多晶体了。

我不太清楚一维材料的准确定义，实际上它应该是在某个尺度范围内，材料某个方向的尺寸远远大于其它方向。它毕竟还是立体的，在更小的尺度上，还是由晶粒构成的，这些晶粒也是立体的，但是由于外场的作用，晶粒主要沿着特定的方向生长排列。晶体学告诉我们，晶体有许多的晶面，XRD测试反应出来的峰就对应晶体某一晶面，对于多晶来说，这个晶面实际上是个晶面族。谢乐公式计算的晶粒尺寸，实际上是某一晶面言其垂直方向生长的厚度，是个平均值，所有晶粒在这个晶面方向厚度的平均值。

详细说明下我的问题，打个比方，比如我是种fcc晶型的单晶纳米棒，若HRTEM观测上表明其暴露晶面主要是[111]面，径向也即其法线<111>,根据谢乐公式计算的话（一般根据第一主峰111面计算），那么计算得到得值能否代表这个纳米棒的长度，因为你也说过，XRD计算代表单晶在某个晶面法线生长的厚度。欢迎再次讨论！

顺带提个问题，若是单晶的纳米棒，且棒的径向就是主晶面的法线生长方向，这个时候计算出来的尺寸代表什么？

6，普通HRTEM量晶面间距这事到底科学么

也许有人会认为TEM分辨率只有一两个埃，因此用TEM定晶面间距也应该只能确定到最多一个埃精度，报出0.34 nm这样的数据是不科学的。报0.28还是报0.34全凭手一抖。但是，请大家注意一个细节，电镜说明书或者宣传材料上，通常写的是分辨率 0.19 纳米、0.14 纳米，甚至是0.10纳米。有没有想过，分辨率2埃和 0.20纳米有什么区别？尽管TEM的分辨率通常在“零点一几”纳米这样的水平，但是这个“零点一几”是个有2位有效数字的数。也就是说，统计上讲，说明TEM在对于零点几纳米的长度数据的测量上，至少是有2位有效数字的精度的。问题是，我们怎么样在测量的过程中，保证这2位有效数字的精度不被人为测量的误差淹没。像楼主所说的，在图像上靠肉眼判断最亮的像素点，然后量距离的方式，基本上不可能保持TEM数据本身的精度的，确实是“想说他是哪个面就是哪个面”。但是，我们本可以有更精确的测量方法。对于实空间的照片，显然我们不能测量单个周期的距离，而至少是几十个周期。并且，DM软件里，用line profile画线，可以得到沿线的亮度变化曲线。进一步，双击这个线，我们可以定义这个线的统计宽度。选几十甚至几百个像素作宽度，能使得这个变化曲线精度大大提高。甚至我们可以输出这个曲线，用软件进行峰位置的拟合。这时候测量若干个峰之间的总距离，除以周期数，就可以定出晶面间距。这样的测量，比直接在图上点像素点，精度可能至少高出一个数量级。对于FFT的图案。类似的，我们可以做一个圆环积分，从而把图案变成一个类似与XRD谱图的曲线，这样也能定出的d值。比直接在图上点像素点相比，精度可能提高一个数量级。。（遗憾的是DM软件不包含这个功能，只能自己编写脚本或者用别的软件实现。）通过上述测量方法得到的精度，基本上可以类比与“信息分辨率”。TEM的信息分辨率，通常比晶格分辨率要高，完全可以满足报出两位有效数字的晶面间距的精度。当然，我也认为报出3位有效数字没有多大意义。